泰勒霍普森輪廓儀 CCI MP-HS 是一款高性能的非接觸式光學輪廓儀，具有測量精度高、功能多樣、操作簡便等特點，以下是詳細介紹：

主要特點：

高速測量：配備一百萬高速相機，掃描速度高達 100 微米 / 秒，在高速測量時可減少丟失點、降低環(huán)境影響，保證測量結(jié)果的準確性。

高分辨率：擁有 1048×1048 像素陣列，結(jié)合 1/10 埃垂直分辨率，無論是粗糙還是光滑表面，都能獲得詳細分析。

測量模式簡便：采用單一掃描模式，憑借的 “相干相關(guān)" 算法，可在任意掃描范圍內(nèi)實現(xiàn)亞埃級分辨率，無需因不同表面而切換復雜模式。

抗振抗噪：整合抗振功能，優(yōu)化抗噪性能，減少環(huán)境干擾導致的測量不確定性，數(shù)據(jù)質(zhì)量更穩(wěn)定。

節(jié)能環(huán)保：主機耗電僅有 250W，在同類產(chǎn)品中耗電低，且不需要任何消耗品，無排放，不污染環(huán)境。

技術(shù)參數(shù)：

拼接功能：具備高級 X、Y、Z 拼接功能，可擴展量程，能應(yīng)對大尺寸工件的全域表面分析。

重復精度：RMS 重復精度 < 0.2 埃，階躍高度重復精度 < 0.1%，測量穩(wěn)定性高。

軟件系統(tǒng)：搭載多語言版本的 Windows 64 位軟件，操作界面友好，方便不同地區(qū)用戶使用。

應(yīng)用領(lǐng)域：可廣泛應(yīng)用于半導體制造、光學元件加工、精密機械、航空航天等領(lǐng)域。能滿足實驗室級別的科研分析，也適用于工廠生產(chǎn)線的批量質(zhì)檢，可測量玻璃、金屬、聚合物等多種材料，以及拋光表面、粗糙表面、曲面等多種類型的表面。

與 CCI MP 的對比：兩者均為非接觸式 3D 輪廓儀，都有 1048×1048 像素陣列，具備高分辨率與廣視場特點，RMS 重復精度均 < 0.2 埃，階躍高度重復精度均 < 0.1%，且都搭載多語言 Windows 64 位軟件。但 CCI MP-HS 在掃描速度上更具優(yōu)勢，擁有一百萬高速相機且掃描速度達 100 微米 / 秒；在拼接功能上描述為高級 X、Y、Z 拼接；還特別強調(diào)了整合抗振和優(yōu)化抗噪性能。而 CCI MP 則突出采用新型關(guān)聯(lián)算法查找干涉圖相干峰和相位，轉(zhuǎn)臺可同步裝配多種標的物，其新型 X、Y、Z 拼接量程可達 100 毫米，且明確提到全量程埃級分辨率。